聯(lián)系我們DM2100型X熒光多元素分析儀已申請(qǐng)專利,仿冒必究
本公司新近推出經(jīng)改進(jìn)的不含同位素放射源的DM2100型X熒光多元素分析儀已申請(qǐng)專利，申請(qǐng)日：2006年4月10日，發(fā)明專利申請(qǐng)?zhí)枺?/span>200610025556.1，實(shí)用新型專利申請(qǐng)?zhí)枺?/span>200620040917.5。任何單位和個(gè)人均不得仿冒生產(chǎn)，違者將追究其法律責(zé)任。
DM2100型X熒光多元素分析儀是在同檔次中唯一得到廣大用戶認(rèn)可的，能同時(shí)測(cè)量Al、Si、Ca、Fe的X熒光多元素分析儀。目前用戶已達(dá)數(shù)百家，均反映良好?，F(xiàn)為適應(yīng)形勢(shì)需要，對(duì)原來的儀器進(jìn)行了改進(jìn)，不用同位素放射源，完全采用X光管作激發(fā)源。并經(jīng)數(shù)家用戶使用，均反映比原來的儀器精度更高，效果更好。
上海愛斯特電子有限公司
2006年4月30日
